X熒光光譜儀的原理及優點介紹

x熒光的基本原理：當束能粒子與原子相互作用時，如果其能量大于或等于原子某軌道電子的結合能，將該軌道電子逐出，對應的形成個空穴，使原子處于激發狀態。此后在很短時間內，由于激發態不穩定，外層電子向空穴躍遷使原子恢復到平衡態，以降低原子能。當較外層的電子躍遷（符合量子力學理論）至內層空穴所釋放的能量以輻射的形式放出，便產生了x熒光。x熒光的能量與入射的能量無關，它只等于原子兩能之間的能量差。由于能量差由該元素原子的殼層電子能決定，故稱之為該元素的特征x射線，也稱熒光x射線或x熒光。  x熒光光譜法就是由x射線光管發生的次x射線激發樣品，試樣可以被激發出各種波長的特征x射線熒光，需要把混合的x射線按波長（或能量）分開，分別測量不同波長（或能量）的x射線的強度，以行定性和定量分析的方法。

 1、優點

  1) 分析時間短。測定用時與測定度有關，但般都很短，2～5分鐘就可以測樣品中的待測元素。

  2) 適用范圍廣。X射線熒光光譜跟樣品的化學結合狀態無關，而且跟固體、粉末、液體及晶質、非晶質等物質的狀態也基本上沒有關系。（氣體密封在容器內也可分析）但是在分辨率的測定中卻可看到有波長變化等現象。特別是在超軟X射線范圍內，這種效應為顯著。波長變化用于化學位的測定 。

  3) 非破壞分析，重現性好。在測定中不會引起化學狀態的改變，也不會出現試樣飛散現象。同試樣可反復多次測量，結果重現性好。

  4) X射線熒光分析是種物理分析方法，所以對在化學性質上屬同族的元素也能行分析。

  5) 制樣簡單，固體、粉末、液體樣品等都可以行分析。

    6) 分析度。