X射線光譜方法測定金屬鍍層厚度是基于束強烈而狹窄的多色X射線與基體和覆蓋層的相互作用。此相互作用產生離散波長和能量的二次輻射，這些二次輻射具有構成覆蓋層和基體元素特征。覆蓋層單位面積質量（若密度已知，則為覆蓋層線性厚度）和二次輻射強度之間存在定的關系。該關系由已知單位面積質量的覆蓋層校正標準塊校正確定。若覆蓋層材料的密度已知，同時又給出實際的密度，則這樣的標準塊就能給出覆蓋層線性厚度。

金屬鍍層厚度分析儀是集天瑞儀器多年鍍層測厚檢測術和經驗，以特的產品配置、能齊的測試軟件、友好的操作界面來滿足金屬鍍層及含量測定的需要，人性化的設計，使測試作加輕松成。