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公司名稱(chēng)：江蘇天瑞儀器股份有限公司
聯(lián)系人：許經(jīng)理
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EDX-V 晶圓微區(qū)鍍層厚度測(cè)厚儀
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：晶圓微區(qū)鍍層厚度測(cè)厚儀通過(guò)X 射線(xiàn)熒光qiang度測(cè)量鍍膜厚度的方法有檢量線(xiàn)法和基本參數(shù)法(FP 法)。晶圓微區(qū)鍍層厚度測(cè)厚儀可在不損壞樣品的情況下進(jìn)行非接觸式測(cè)量。而且測(cè)量時(shí)間較短， 僅為3-20s。
價(jià)格：面議
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EDX600PLUS 鍍層測(cè)厚儀，江蘇天瑞儀器股份有限公司
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：鍍層測(cè)厚儀，江蘇天瑞儀器股份有限公司：測(cè)量方便快捷，無(wú)需液氮，無(wú)需樣品前處理。對(duì)工業(yè)電鍍、化鍍、熱鍍等各種鍍層的成分厚度以及電鍍液金屬離子濃度進(jìn)行準(zhǔn)確檢測(cè)，幫助企業(yè)準(zhǔn)確核算成本及質(zhì)量管控。
價(jià)格：面議
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EDX-V 電鍍多層鍍層厚度膜厚儀
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：電鍍多層鍍層厚度膜厚儀通過(guò)X 射線(xiàn)熒光qiang度測(cè)量鍍膜厚度的方法有檢量線(xiàn)法和基本參數(shù)法(FP 法)。晶圓微區(qū)鍍層厚度測(cè)厚儀可在不損壞樣品的情況下進(jìn)行非接觸式測(cè)量。而且測(cè)量時(shí)間較短， 僅為3-20s。
價(jià)格：面議
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EDX600 金屬化陶瓷行業(yè)鍍層測(cè)厚儀
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：金屬化陶瓷行業(yè)鍍層測(cè)厚儀是天瑞儀器股份有限公司集30多年X熒光鍍層厚度測(cè)量技術(shù)經(jīng)驗(yàn)，zhuan門(mén)研發(fā)的下照式結(jié)構(gòu)的鍍層測(cè)厚儀。
價(jià)格：面議
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EDX-T 晶圓硅鍍金厚度測(cè)厚儀
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：晶圓硅鍍金厚度測(cè)厚儀是一款上照式X射線(xiàn)熒光分析儀，該款儀器配置嵌入集成式多準(zhǔn)直孔、濾光片zi動(dòng)切換裝置和雙攝像頭，不僅能展現(xiàn)測(cè)試部位的細(xì)節(jié)，也能呈現(xiàn)出gao清廣角視野；zi動(dòng)化的 X/Y/Z 軸的三維移動(dòng)，實(shí)現(xiàn)對(duì)平面、凹凸、拐角、弧面等各種形態(tài)的樣品進(jìn)行快速對(duì)焦jing準(zhǔn)分析。
價(jià)格：面議
